L'infrarouge à ondes courtes (SWIR) est une lentille optique spécialement conçue pour capter la lumière infrarouge à ondes courtes, invisible à l'œil nu. Cette bande est communément appelée lumière dont les longueurs d'onde s'étendent de 0,9 à 1,7 micron. Le principe de fonctionnement de la lentille infrarouge à ondes courtes repose sur les propriétés de transmission du matériau pour une longueur d'onde spécifique. Grâce à des matériaux optiques et une technologie de revêtement spécifiques, la lentille peut conduire efficacement la lumière infrarouge à ondes courtes tout en supprimant la lumière visible et les autres longueurs d'onde indésirables.
Ses principales caractéristiques comprennent :
1. Haute transmittance et sélectivité spectrale :Les lentilles SWIR utilisent des matériaux optiques spécialisés et une technologie de revêtement pour atteindre une transmittance élevée dans la bande infrarouge à ondes courtes (0,9 à 1,7 micron) et possèdent une sélectivité spectrale, facilitant l'identification et la conduction de longueurs d'onde spécifiques de la lumière infrarouge et l'inhibition d'autres longueurs d'onde de la lumière.
2. Résistance à la corrosion chimique et stabilité thermique :Le matériau et le revêtement de la lentille démontrent une stabilité chimique et thermique exceptionnelle et peuvent maintenir des performances optiques dans des conditions de fluctuations de température extrêmes et dans diverses circonstances environnementales.
3. Haute résolution et faible distorsion :Les lentilles SWIR présentent des attributs optiques de haute résolution, de faible distorsion et de réponse rapide, répondant aux exigences de l'imagerie haute définition.
Les lentilles infrarouges à ondes courtes sont largement utilisées dans le domaine de l'inspection industrielle. Par exemple, dans le processus de fabrication des semi-conducteurs, les lentilles SWIR permettent de détecter des défauts à l'intérieur des plaquettes de silicium, difficiles à détecter sous lumière visible. La technologie d'imagerie infrarouge à ondes courtes permet d'améliorer la précision et l'efficacité de l'inspection des plaquettes, réduisant ainsi les coûts de fabrication et améliorant la qualité des produits.
Les lentilles infrarouges courtes jouent un rôle essentiel dans l'inspection des plaquettes de semi-conducteurs. La lumière infrarouge courte peut pénétrer le silicium et permet ainsi de détecter les défauts dans les plaquettes de silicium. Par exemple, des fissures peuvent apparaître sur la plaquette en raison de contraintes résiduelles pendant le processus de production. Si elles ne sont pas détectées, ces fissures influencent directement le rendement et le coût de fabrication du circuit intégré final. Grâce aux lentilles infrarouges courtes, ces défauts peuvent être efficacement détectés, améliorant ainsi l'efficacité de la production et la qualité du produit.
Dans les applications pratiques, les lentilles infrarouges à ondes courtes peuvent fournir des images à contraste élevé, rendant les défauts même les plus infimes nettement visibles. L'application de cette technologie de détection améliore non seulement la précision de la détection, mais réduit également le coût et le temps de détection manuelle. Selon l'étude de marché, la demande de lentilles infrarouges à ondes courtes sur le marché de la détection des semi-conducteurs augmente d'année en année et devrait maintenir une trajectoire de croissance stable au cours des prochaines années.
Date de publication : 18 novembre 2024