L'infrarouge à ondes courtes (SWIR) constitue une lentille optique spécialement conçue pour capturer la lumière infrarouge à ondes courtes qui n'est pas directement perceptible par l'œil humain. Cette bande est habituellement désignée comme lumière avec des longueurs d'onde allant de 0,9 à 1,7 microns. Le principe de fonctionnement de la lentille infrarouge à ondes courtes dépend des propriétés de transmission du matériau pour une longueur d'onde spécifique de la lumière, et avec l'aide de matériaux optiques spécialisés et d'une technologie de revêtement, la lentille peut conduire efficacement la lumière infrarouge à ondes courtes tout en supprimant le visible. la lumière et d’autres longueurs d’onde indésirables.
Ses principales caractéristiques comprennent :
1. Transmission élevée et sélectivité spectrale :Les lentilles SWIR utilisent des matériaux optiques spécialisés et une technologie de revêtement pour atteindre une transmission élevée dans la bande infrarouge à ondes courtes (0,9 à 1,7 microns) et possèdent une sélectivité spectrale, facilitant l'identification et la conduction de longueurs d'onde spécifiques de la lumière infrarouge et l'inhibition d'autres longueurs d'onde de la lumière. .
2. Résistance à la corrosion chimique et stabilité thermique :Le matériau et le revêtement de la lentille démontrent une stabilité chimique et thermique exceptionnelle et peuvent maintenir des performances optiques dans des fluctuations de température extrêmes et dans diverses circonstances environnementales.
3. Haute résolution et faible distorsion :Les objectifs SWIR présentent des attributs optiques de haute résolution, de faible distorsion et de réponse rapide, répondant aux exigences de l'imagerie haute définition.
Les lentilles infrarouges à ondes courtes sont largement utilisées dans le domaine de l'inspection industrielle. Par exemple, dans le processus de fabrication des semi-conducteurs, les lentilles SWIR peuvent détecter des défauts à l’intérieur des tranches de silicium qui sont difficiles à détecter sous la lumière visible. La technologie d'imagerie infrarouge à ondes courtes peut augmenter la précision et l'efficacité de l'inspection des plaquettes, réduisant ainsi les coûts de fabrication et améliorant la qualité des produits.
Les lentilles infrarouges à ondes courtes jouent un rôle essentiel dans l’inspection des plaquettes semi-conductrices. Étant donné que la lumière infrarouge à ondes courtes peut pénétrer dans le silicium, cet attribut permet aux lentilles infrarouges à ondes courtes de détecter les défauts dans les tranches de silicium. Par exemple, la tranche peut présenter des fissures dues à des contraintes résiduelles pendant le processus de production, et ces fissures, si elles ne sont pas détectées, influenceront directement le rendement et le coût de fabrication de la puce IC finale. En tirant parti des lentilles infrarouges à ondes courtes, ces défauts peuvent être efficacement détectés, favorisant ainsi l'efficacité de la production et la qualité des produits.
Dans des applications pratiques, les lentilles infrarouges à ondes courtes peuvent fournir des images très contrastées, rendant ainsi visibles même les défauts les plus infimes. L'application de cette technologie de détection améliore non seulement la précision de la détection, mais réduit également le coût et le temps de la détection manuelle. Selon le rapport d’étude de marché, la demande de lentilles infrarouges à ondes courtes sur le marché de la détection de semi-conducteurs augmente d’année en année et devrait maintenir une trajectoire de croissance stable au cours des prochaines années.
Heure de publication : 18 novembre 2024